Disciplinas da Linha de Pesquisa
Para integralizar o mínimo de 37 créditos em disciplinas, o aluno deverá cursar pelo menos 4 Créditos de disciplinas da sua Linha de Pesquisa, entre as quais:
Disciplina: |
Métodos Experimentais em Ciências Moleculares e de Materiais |
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Natureza: |
Obrigatória para Linha de Pesquisa Caracterização e Desenvolvimento de Moléculas e Materiais |
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CH: |
60 Horas |
Créditos: |
4 |
Ementa: |
Difratometria de Raios-X; Absorção de Raios-X, Análises térmicas: DTA, DSC, TG, Dilatometria;Ensaios mecânicos; BET; Espectroscopia de Impedância, Espectroscopia UVVisível-Infravermelho, Fluorescência, Fotoluminescência, Fotocondutividade, Espectroscopia Raman, Espectroscopia XPS, Medidas Elétricas, efeito Hall. |
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Bibliografia: |
1. Hohne, G. W. H.; Hemninger And Flammersheim, H.-J., Differential Scanning Calorimetry: An Introduction For Practitioners, Springer-Verläg, New York, 1995. 2. Poole Jr, C. P., Electron Spin Resonance: A Comprehensive Treatise on Experimental Techniques, 2nd Edition, Dover Pubns., 1997. 3. Schrader, B. and Bougeard, D., Infrared and Raman Spectroscopy: Methods and Applications, John Wiley & Sons, 1995. 4. S. J. Gregg e K. S. Sing, Adsorption, Surface Area and Porosity, Academic Press, 1982. 5. A.J. Bard e L.R. Faulkner, Electrochemical Methods: Fundamentals and Applications, John Wiley & Sons, New York, 1980. 6. J. R. MacDonald, Impedance spectroscopy emphasing solid materials and systems, John Wiley & Sons, NY, 1987. 7. R. Jenkins, R.L. Snyder, Introduction to X-ray Powder Diffractometry, Ed. J. D. Winefordner, John Wiley & Sons (1996). 8. CULLITY B.D.; STOCK S.R. Elements of X-Ray Diffraction, Addison-Wesley Publishing Company, London. 9. KLUG H.P.; ALEXANDER L.E. "X-Ray Diffraction Procedures for Polycrystalline and Amorphous Materials", Wiley, New York. 10. SOUZA S.A. Ensaios Mecânico de Materiais Metálicos, Edgard Blücher, São Paulo. 11. KLUG H.P.; ALEXANDER L.E. "X-Ray Diffraction Procedures for Polycrystalline and Amorphous Materials", Wiley, New York. |
Disciplina: |
Métodos Computacionais em Ciência e Tecnologia |
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Natureza: |
Obrigatória para Linha de Pesquisa Métodos Teórico-Computacionais em Ciência de Materiais |
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CH: |
60 Horas |
Créditos: |
4 |
Ementa: |
Conceitos básicos de algoritmos e estruturas de dados. Tipos de dados, operadores, condicionais, entrada e saída de dados, matrizes, apontadores, loops, funções, recursões. Visualização de dados. Estruturas de dados elementares: vetores, matrizes, listas lincadas, filas, pilhas, estruturas, etc. Algoritmos de Classificação e Busca. Técnicas de análise de complexidade de algoritmos. Estruturas de dados lineares e não lineares. Métodos Numéricos: Sistemas Lineares, Mínimos Quadrados Lineares, Equações Não-Lineares, Problemas de Valor Inicial, Problemas de Valor no Contorno, Interpolação, Otimização, Equações Diferenciais Parciais. |
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Bibliografia: |
1. CORMEN, T. H., LEISERSON, C. E., RIVEST, R. L. Algoritmos: Teoria e Prática. Campus, primeira edição, 2002. 2. Golub, Gene H.; Ortega, James M.; "Scientific computing and differential equations: introduction to numerical methods", Academic Press, 1992, ISBN: 0-12-289255-0; 3. Burden, Richard L.; J. Douglas Faires; "Numerical Analysis", Brooks/Cole, 1997, ISBN: 0-534-95532-) 4. Scientific Computing: An Introductory Survey (2002), Michael T. Heath, http://www.cse.uiuc.edu/heath/scicomp/notes/ |